介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀的五個(gè)核心技術(shù)特性

雙維度智能掃描系統(tǒng)集成測(cè)試頻率與調(diào)諧電容雙掃描機(jī)制，支持自動(dòng)調(diào)諧搜索功能，通過(guò)數(shù)字按鍵可精準(zhǔn)輸入測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值，結(jié)合數(shù)碼化頻率 / 電容調(diào)諧技術(shù)，實(shí)現(xiàn)參數(shù)設(shè)置的高效性與精準(zhǔn)度，滿(mǎn)足復(fù)雜測(cè)試場(chǎng)景的快速配置需求。

全自動(dòng)化測(cè)量架構(gòu)內(nèi)置 100pF 標(biāo)準(zhǔn)電容器及 5000V 數(shù)字式高壓測(cè)試電源，可對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率、電容參數(shù)的全自動(dòng)測(cè)量。依托 DDS 數(shù)字直接合成信號(hào)源技術(shù)，確保信號(hào)源高保真度、頻率高精度（±0.01%）及幅度高穩(wěn)定性（±0.1dB），配合內(nèi)部元件特殊老化處理工藝，實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)期運(yùn)行的技術(shù)性能穩(wěn)定性。

精密測(cè)量修正技術(shù)采用計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正算法與測(cè)試回路優(yōu)化設(shè)計(jì)，將殘余電感降至納亨級(jí)水平，消除傳統(tǒng) Q 值測(cè)量中因頻率差異導(dǎo)致的修正誤差。雙屏蔽結(jié)構(gòu)有效抵御外部電磁場(chǎng)干擾，保障高靈敏度測(cè)試環(huán)境。新增殘余電感自動(dòng)扣除功能（含儀器本體及測(cè)試引線電感），使小電感值（μH 級(jí)）測(cè)量精度提升至 0.5% FS，十進(jìn)開(kāi)關(guān)設(shè)計(jì)確保接觸電阻＜50mΩ，機(jī)械壽命超 50 萬(wàn)次，顯著增強(qiáng)測(cè)量穩(wěn)定性。

寬量程便捷測(cè)量能力創(chuàng)新實(shí)現(xiàn)大電容值直接測(cè)量技術(shù)，配 100μH 電感時(shí)電容直接測(cè)量范圍可達(dá) 25nF，單按鍵操作即可完成全量程切換。內(nèi)置電位跟蹤器與高靈敏度指零儀，簡(jiǎn)化外圍接線至 3 點(diǎn)以?xún)?nèi)，大幅提升測(cè)試便捷性。

全參數(shù)可視化交互界面搭載彩色 TFT 液晶顯示屏，支持 16 種參數(shù)實(shí)時(shí)顯示，涵蓋電容量 Cx、介損 tgδ、介電常數(shù) εr、試驗(yàn)電壓（Upk/√2）、測(cè)試頻率、電極面積 A、材料厚度 h 等關(guān)鍵指標(biāo)，同步顯示測(cè)量系統(tǒng)接線圖，滿(mǎn)足材料介電特性、電感品質(zhì)因數(shù)等多維度分析需求，為精密測(cè)量提供直觀數(shù)據(jù)支持。