1. 影響測量準(zhǔn)確度的因素和提高測量準(zhǔn)確度的途徑 

1.1.氣候條件的影響和確定 

※同樣的材料在不同的溫度、濕度下測得的結(jié)果也是不相同的。 

※因此必須在規(guī)定的溫度和濕度條件下進(jìn)行測 試。 

※如果偏離此條件，必須進(jìn)行校正。

正常化處理（預(yù)處理）

定義：是為了消除試樣在試驗(yàn)前條件與測試條件不一致而造成性能的差異，而對試樣進(jìn)行預(yù)處理的過程。

條件處理

※條件處理，為了考核材料能夠耐受溫度、濕度等各種因素影響的程度，或者測定材料在特定條件下的某種性能和變化規(guī)律，在試驗(yàn)前，將試樣置于規(guī)定溫度和濕度的大氣中或*浸泡在水（或其它液體）中，放置規(guī)定時間的處理。 

※我國規(guī)定的常態(tài)實(shí)驗(yàn)：溫度為20±5℃ ，相對濕度為65±5%

2.2.工作條件—電壓、時間的影響和確定 穩(wěn)定電流

※加電壓后，試樣中存在傳導(dǎo)電流、充電電流（干 擾） 、吸收電流（干擾）。 

※充電電流在閉合電源后的很短時間就降為零。 

※吸收電流與待測絕緣介質(zhì)材料特性有關(guān)，且隨時間逐漸減小，最后接近于零。

※作電流時間曲線，在電流穩(wěn)定后再測量。 

※實(shí)際中，一般材料在加電1分鐘左右，電流趨于穩(wěn)定。 

※通常規(guī)定，加電壓1分鐘后，再進(jìn)行測量。

試驗(yàn)電壓

※對于完整的理想絕緣介質(zhì)材料，試驗(yàn)電壓的大小與其絕緣電阻值無關(guān)。 

※實(shí)際材料總不可避免的存在雜質(zhì)和缺陷，使所測得的絕緣電阻值隨所加電壓的增加而降低。 

※所以，對于每種材料都要規(guī)定測試電壓的大小。

殘余電荷與靜電

※由于電解質(zhì)的極化特性，在直流電場中介質(zhì)與電極的分界面上將積聚有極化電荷，而在電極上相應(yīng)地增加了自由電荷。 

※當(dāng)外電場去除后，極化電荷逐漸消失，電極上的電荷隨極化電荷的消失而緩慢減少。 

※實(shí)例：若試樣先測體積電阻后立刻測表面電阻時，由于極化電荷的影響，可能使測得的表面電阻偏大，甚至高阻計(jì)指針反偏。

※絕緣介質(zhì)材料在制造、加工和測試等過程中還可能產(chǎn)生靜電，影響測量的準(zhǔn)確性。 

※因此，在測量時為消除極化電荷和靜電的影響，試樣要*放電。

2. 影響測量準(zhǔn)確度的因素和提高測量準(zhǔn)確度的途徑 

2.3. 環(huán)境條件—漏電流及外來干擾電勢

▲外來電勢按來源和性質(zhì)可分為：外界強(qiáng)電場的干擾、接觸電勢、熱電勢、電解電勢。 

▲測量前應(yīng)首先檢查有無外來電勢的影響。

檢查有無外來電勢的一般方法

▲觀察試樣在施加電壓前以及去除電壓后指示 器有無偏轉(zhuǎn)來確定。 

▲如有偏轉(zhuǎn)，說明存在外來電勢的影響。 

▲當(dāng)偏轉(zhuǎn)不大，可改變施加電源電壓極性（正、 反向），測量兩次取平均值。 

▲若外來干擾電勢很大，須找出其原因，并設(shè)法消除。

2.3. 環(huán)境條件外界強(qiáng)電場的干擾

在超高阻測量時的影響比較顯著。 

原理：通過雜散電磁耦合或者靜電感應(yīng)方式， 在測量回路中產(chǎn)生附加雜散電流，影響測量準(zhǔn)確度。 

例子：比如用“高阻計(jì)法"測電阻，本來電 流就很小，再經(jīng)放大，附加電流的影響就很大了。 

對策：在測量回路對外電場感應(yīng)敏感的地方， 如測量電極引線、分流器及檢流計(jì)等都應(yīng)有

接觸電勢和熱電勢

接觸電勢：產(chǎn)生在元件連接處以及不同金屬接觸處（如測量端的短路開關(guān)），由于逸出功不同而產(chǎn)生接觸電勢。 

熱電勢：在溫度很高時，由于熱的不均勻性，在檢流計(jì)、分流器等低阻回路中，將產(chǎn)生熱電勢（或溫差電勢）造成檢流計(jì)零點(diǎn)漂移。 

▲通常熱電勢很小，接觸電勢可以通過改善接頭來消除。

電解電勢

▲在潮濕環(huán)境下或試樣表面不清潔場合下，由于直流電場電解作用將在測量電極和保護(hù)電極之間產(chǎn)生，它可能達(dá)到較大的數(shù)值。 

對策：使試樣表面保持清潔，并置于干燥大氣中來減弱這種影響。

漏電流

▲測量線路的漏電流主要是各元件、開關(guān)、電極支架和檢流計(jì)接線的絕緣電阻不高而形成分路作用，這些漏電流流經(jīng)檢流計(jì)將造成測量誤差。

▲I1表示通過測量回路處于高壓端各元件到測量端的漏電流；I2表示從測量端到接地端的漏電流。

▲漏電流I1存在，將使測得試樣的電阻值偏小；而I2存在，將使得測量電阻值偏大。 

▲要減小I1，則必須提高R1，即提高高壓端各絕緣支撐的絕緣電阻。但是，這受到限制，特別是測量高絕緣電阻的試樣很難滿足。

高絕緣電阻測試時抑制漏電流的措施

保護(hù)技術(shù)的原理： 

▲只有通過檢流計(jì)的漏電流才能影響測量結(jié)果。 

▲將產(chǎn)生漏電流I1的所有高壓部分的 元件放在具有金屬夾層的雙層絕緣體上，金屬夾層接地。

在絕緣電阻測試中，必須檢查有無漏電流存在。 

檢查方法： 

▲斷開試樣測量端與分流器的連線，加上電源，合上所有開關(guān)，逐步增大檢流計(jì)靈敏度，視指示器有無偏置； 

▲如有偏轉(zhuǎn)，說明有漏電流通過指示儀器，必須找出原因并加以消除； 

▲檢流計(jì)無偏轉(zhuǎn)時才能進(jìn)行正式測量。

絕緣材料絕緣電阻的測量方法

標(biāo)準(zhǔn)的演變： 

GB/1410-2006（2006-06-01——至今）固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法 

GB/1410-1989（1990-01-01——2006-06-01）固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法 

GB/1410-78（更早）固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻系數(shù)試驗(yàn)方法

標(biāo)準(zhǔn)截圖

關(guān)鍵詞：體積電阻率測量 表面電阻率測量 電阻率測量儀